一种LED驱动芯片的测试装置和方法与流程

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种led驱动芯片的测试装置和方法。

背景技术：

1、随着led的广泛应用，对led的亮度、色温、色彩饱和度等参数的需求日益精细化，这要求led驱动电路能够实现更精确的控制。

2、由于应用于led驱动电路的led驱动芯片已经普遍存在，因此对led驱动芯片精度的测试对于判断产品性能的合格与否是至关重要的，相关技术中采用ate(automatic testequipment，自动测试设备)对待测led驱动芯片进行测试，然而，由于led驱动芯片的测试向量多，尤其是多比特电流led驱动芯片，测试一个多比特电流led驱动芯片需要测试数万次，ate难以实现所有测试向量的测试，只能实现部分测试向量的测试，导致测试结果不准确。

技术实现思路

1、本发明提供一种led驱动芯片的测试装置和方法，用以解决现有技术中存在的在对led驱动芯片进行测试时，ate难以实现所有测试向量的测试，导致测试结果不准确的问题。

2、第一方面，本发明实施例提供一种led驱动芯片的测试装置，包括ate和控制单元；

3、所述ate，用于向所述控制单元发送变化指令信号后，接收待测led驱动芯片发送的测试数据，并在测试完成后，基于接收到的测试数据，判断所述led驱动芯片的功能是否满足预设标准；

4、所述控制单元，用于基于接收到的变化指令信号，为所述待测led驱动芯片依次提供不同的输入信号；

5、其中，所述待测led驱动芯片在每次接收到输入信号后，基于接收到的输入信号，输出测试数据；输入信号为与所述待测试led驱动芯片能够驱动的电流的比特数对应的测试向量。

6、在一种可能的实现方式中，还包括处理单元；

7、所述ate在接收到所述待测led驱动芯片发送的测试数据后，还用于：向所述处理单元发送所述测试数据，以及接收所述处理单元发送的目标测试数据，并在测试完成后，基于接收到的目标测试数据，判断所述led驱动芯片的功能是否满足预设标准；

8、所述处理单元，用于接收所述ate发送的测试数据，并对所述测试数据进行筛选，得到所述目标测试数据，其中，所述目标测试数据包括下列中的部分或全部：所述测试数据中的电流值、所述测试数据中的电压值、所述测试数据中的延迟时间、所述测试数据中的逻辑信号。

9、在一种可能的实现方式中，所述控制单元具体用于：

10、基于接收到的变化指令信号，为所述待测led驱动芯片依次提供按序排列的输入信号；

11、其中，所述按序排列的输入信号包括输入信号中包括的电流值依次增大，或输入信号中包括的电压值依次增大，或输入信号中包括的电流值依次减小，或输入信号中包括的电压值依次减小。

12、在一种可能的实现方式中，所述变化指令信号包括脉冲信号。

13、在一种可能的实现方式中，所述控制单元具体用于：

14、接收所述变化指令信号，识别所述变化指令信号中的脉冲信号为上升沿时，为所述待测led驱动芯片提供不同的输入信号；或

15、接收所述变化指令信号，识别所述变化指令信号中的脉冲信号为下降沿时，为所述待测led驱动芯片提供不同的输入信号。

16、在一种可能的实现方式中，还包括测试板；

17、所述测试板，用于承载所述待测led驱动芯片，以及为所述待测led驱动芯片提供工作电路。

18、第二方面，本发明实施例还提供一种led驱动芯片的测试方法，所述方法包括：

19、通过自动测试设备ate向所述控制单元发送变化指令信号；

20、通过控制单元在接收到变化指令信号后，为待测led驱动芯片依次提供不同的输入信号；

21、通过所述ate接收待测led驱动芯片发送的测试数据，并在测试完成后，基于接收到的测试数据，判断所述led驱动芯片的功能是否满足预设标准；

22、其中，所述待测led驱动芯片在每次接收到输入信号后，基于接收到的输入信号，输出测试数据；输入信号为与所述待测试led驱动芯片能够驱动的电流的比特数对应的测试向量。

23、在一种可能的实现方式中，所述方法包括：

24、在接收到所述待测led驱动芯片发送的测试数据后，通过所述ate向处理单元发送所述测试数据；

25、通过所述处理单元接收所述ate发送的测试数据，并对所述测试数据进行筛选，得到目标测试数据，其中，所述目标测试数据包括下列中的部分或全部：所述测试数据中的电流值、所述测试数据中的电压值、所述测试数据中的延迟时间、所述测试数据中的逻辑信号；

26、通过所述ate接收所述处理单元发送的目标测试数据，并在测试完成后，基于接收到的目标测试数据，判断所述led驱动芯片的功能是否满足预设标准。

27、在一种可能的实现方式中，所述方法包括：

28、通过所述控制单元基于接收到的所述变化指令信号，为所述待测led驱动芯片依次提供按序排列的输入信号；

29、其中，所述按序排列的输入信号包括输入信号中包括的电流值依次增大，或输入信号中包括的电压值依次增大，或输入信号中包括的电流值依次减小，或输入信号中包括的电压值依次减。

30、在一种可能的实现方式中，所述变化指令信号包括脉冲信号。

31、在一种可能的实现方式中，所述方法包括：

32、接收所述变化指令信号，识别所述变化指令信号中的脉冲信号为上升沿时，通过所述控制单元为所述待测led驱动芯片提供不同的输入信号；或

33、接收所述变化指令信号，识别所述变化指令信号中的脉冲信号为下降沿时，通过所述控制单元为所述待测led驱动芯片提供不同的输入信号。

34、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

35、通过测试板承载所述待测led驱动芯片，以及通过所述测试板为所述待测led驱动芯片提供工作电路。

36、本发明有益效果如下：

37、本发明提供的一种led驱动芯片的测试装置和方法，包括ate和控制单元：ate在向控制单元发送变化指令信号后，接收待测led驱动芯片发送的测试数据，并在测试完成后，基于接收到的测试数据，判断led驱动芯片的功能是否满足预设标准；控制单元基于接收到的变化指令信号，为待测led驱动芯片依次提供不同的输入信号；其中，待测led驱动芯片在每次接收到输入信号后，输出测试数据；输入信号为与待测试led驱动芯片能够驱动的电流的比特数对应的测试向量。由于本申请中通过ate向控制单元发送变化指令信号，控制单元基于变化指令信号为待测led驱动芯片依次提供输入信号，该输入信号为与待测试led驱动芯片能够确定的电流的比特数对应的测试向量，使用控制单元可以提供所有的测试向量，从而使led驱动芯片的测试结果更准确。

技术特征：

1.一种led驱动芯片的测试装置，其特征在于，包括自动测试设备ate和控制单元：

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括处理单元；

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述控制单元具体用于：

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述变化指令信号包括脉冲信号。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述控制单元具体用于：

6.如权利要求1～5任一所述的测试装置，其特征在于，还包括测试板；

7.一种led驱动芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述变化指令信号包括脉冲信号。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

12.如权利要求7～11任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

技术总结
本发明公开一种LED驱动芯片的测试装置和方法，该装置中ATE在向控制单元发送变化指令信号后，接收待测LED驱动芯片发送的测试数据，在测试完成后，判断待测LED驱动芯片的功能是否满足预设标准；控制单元基于接收到的变化指令信号，为待测LED驱动芯片依次提供不同的输入信号；待测LED驱动芯片在接收到输入信号后，输出测试数据，输入信号为与待测试LED驱动芯片能够驱动的电流的比特数对应的测试向量。由于本发明通过ATE向控制单元发送变化指令信号，控制单元基于变化指令信号为待测LED驱动芯片依次提供输入信号，该输入信号为与待测试LED驱动芯片能够确定的电流的比特数对应的测试向量，使用控制单元可以提供所有的测试向量，使LED驱动芯片的测试结果更准确。

技术研发人员：闫建生,严丞辉,林荣镇
受保护的技术使用者：北京显芯科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23