一种基于小型闪存的测试装置及方法
一种基于小型闪存的测试装置及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种基于小型闪存的测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]Nand Flash从芯片供应商出货至各销售渠道，等级差异很大，另外以次充好的现象比比皆是，Nand Flash的检测设备一般只有大型企业才具备，而且设备体积庞大，操作复杂，测试效率低，不具有便携性。对于企业而言，需要采购大量的测试设备来测试购买的Nand Flash芯片的品质，测试设备占用空间小、操作简单、测试效率高，同时具备可靠性至关重要。针对Nand Flash芯片等级和坏块测试，一种体积小、操作简单、测试效率高的NandFlash检测设备，能为Nand Flash的检测提供较好的解决方案。
[0003]有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的基于小型闪存的测试装置，使其更具有产业上的利用价值。
【发明内容】
[0004]为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种基于小型闪存的测试装置及方法。
[0005]为实现上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0006]—种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座，所述测试基座上安装有第一测试座和第二测试座，所述测试基座上还设置有闪存检测控制单元，所述第一测试座的输出端和第二测试座的输出端都与闪存检测控制单元的检测端相连，所述闪存检测控制单元的控制端与闪存测试模式配置单元输入端相连，还与闪存型号配置单元的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元的输入端相连，所述闪存检测控制单元的反馈端与闪存测试模式配置单元的输出端，还与闪存型号配置单元的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元的输出端相连，所述闪存检测控制单元的输出端通过测试基座输出单元与PC的输入端相连。
[0007]再进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座为薄型小尺寸封装测试座。
[0008]更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第二测试座为焊球阵列封装测试座。
[0009]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元均为独立的单元布置。
[0010]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座输出单元为USB接口。
[0011]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座和第二测试座为独立的测试座布置。
[0012]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度范围在10?15厘米，宽度范围在6?8厘米，高度范围在2?4厘米。
[0013]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米。
[0014]一种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0015]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座和/或第二测试座内；
[0016]S2:闪存检测控制单元检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0017]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元对未被检测的闪存卡进行检测；
[0018]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元各自的输出端反馈到闪存检测控制单元中间；
[0019]S5:通过S4中闪存检测控制单元得到的反馈数据通过测试基座输出单元传输至PC中；
[0020]S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。
[0021]进一步地，一种基于小型闪存测试的方法，其中，所述步骤S2同时检测到第一测试座2和第二测试座3内的闪存时，以预先设定的程序对其中之一的第一测试座2或第二测试座3进彳丁先检测。
[0022]借由上述方案，本发明至少具有以下优点:
[0023]本发明将测试基座的尺寸变小，使之占用空间小，小区域内可以部署上百个测试装置，同时具有极高的便携性，方便使用者随时能携带，提高检测的工作效率，同时通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性;通过便携式的装置及可及时获取的数据，使该装置具备高效性，从而提高工作效率。
[0024]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
【附图说明】
[0025]为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0026]图1是本发明的结构示意图；
[0027]图2是本发明的连接关系图。
【具体实施方式】
[0028]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0029]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0030]实施例
[0031]如图1、图2所示，一种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座1，所述测试基座1上安装有第一测试座2和第二测试座3，所述测试基座1上还设置有闪存检测控制单元4，所述第一测试座2的输出端和第二测试座3的输出端都与闪存检测控制单元4的检测端相连，所述闪存检测控制单元4的控制端与闪存测试模式配置单元5输入端相连，还与闪存型号配置单元6的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输入端相连，所述闪存检测控制单元4的反馈端与闪存测试模式配置单元5的输出端，还与闪存型号配置单元6的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输出端相连，所述闪存检测控制单元4的输出端通过测试基座输出单元9与PC的输入端相连。通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性。
[0032]进一步的，所述闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8均为独立的单元布置，上述4个单元相互之间也不产生影响它们依据自行设定的程序对未被检测的闪存卡进行检测，并将其检测后得到的数据反馈到闪存检测控制单元4。
[0033]其中，所述测试基座输出单元9为USB接口。
[0034]而所述测试基座1的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米使其具备方便携带的能力，从而能将其随身携带，来针对需要检测的闪存器件。
[0035]—种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0036]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座2和/或第二测试座3内；
[0037]S2:闪存检测控制单元4检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0038]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元4中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元 6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8对未被检测的闪存卡进彳丁检测；
[0039]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8各自的输出端反馈到闪存检测控制单元4中间；
[0040]S5:通过S4中闪存检测控制单元4得到的反馈数据通过测试基座输出单元9传输至PC中;
[0041]S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。
[0042]其中，闪存检测控制单元4:用于闪存与状态指示的控制，并通过USB接口与PC进行数据交互；
[0043]闪存测试模式配置单元5:用于闪存测试算法的配置；
[0044]闪存型号配置单元6:用于配置不同厂商的闪存芯片；
[0045]闪存测试状态指示单元7:用于指示闪存测试过程的状态；
[0046]闪存分类指示单元8:用于闪存测试结果的指示，以此判断闪存芯片的等级。
[0047]本发明将测试基座的尺寸变小，使之具有极高的便携性，方便使用者随时能携带，提高检测的工作效率，同时通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性;通过便携式的装置及可及时获取的数据，使该装置具备高效性，从而提尚工作效率。
[0048]在包含以上内容的基础上，以下具体举例说明本发明的内容。
[0049]实施例一
[0050]在实施例一中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第一测试座为薄型小尺寸封装(TS0P)测试座进行检测，其检测的工作流程为:
[0051]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座(薄型小尺寸封装)；
[0052]S2:闪存检测控制单元4检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0053]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元4中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元
5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8对未被检测的闪存卡进彳丁检测；
[0054]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8各自的输出端反馈到闪存检测控制单元4中间；
[0055]S5:通过S4中闪存检测控制单元4得到的反馈数据通过测试基座输出单元9传输至PC中;
[0056]S6:通过PC显示被检测的闪存卡的所有需要的数据。
[0057]其中，检测的过程不发生任何的改变，只是只能单一对第一测试座2上的闪存进行检测，将采用薄型小尺寸封装的闪存全都检测，并分级。
[0058]实施例二
[0059]在实施例二中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第二测试座3为焊球阵列封装(BGA或者LGA)测试座进行检测，其检测的工作流程为:
[0060]与上述实施例一中的检测方法一致，只是只能单一对第二测试座3上的闪存进行检测，将采用焊球阵列封装(BGA或者LGA)的闪存全都检测，并分级。
[0061 ] 实施例三
[0062]在实施例三中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第一测试座2和/或第二测试座3的同时检测，即薄型小尺寸封装(TS0P)/焊球阵列封装(BGA或者LGA)的检测，具体的工作流程与上述的实施例一和实施例二中的检测方法几乎相同，只是在其S1步骤后，检测得到的两者闪存同时出现后，闪存检测控制单元4会依据预先设定的程序作出先检测第一测试座2还是第二测试座3，当第一测试座2为预先设定的先检测的程序时，在第一测试座2检测完后，才会对第二测试座3内的闪存进行检测，最后将两种得到的数据汇总到PC中，并显示。
[0063]以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种基于小型闪存的测试装置，其特征在于:包括测试基座(1)，所述测试基座(1)上安装有第一测试座(2)和第二测试座(3)，所述测试基座(1)上还设置有闪存检测控制单元(4)，所述第一测试座(2)的输出端和第二测试座(3)的输出端都与闪存检测控制单元(4)的检测端相连，所述闪存检测控制单元(4)的控制端与闪存测试模式配置单元(5)输入端相连，还与闪存型号配置单元(6)的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元(7)的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元(8)的输入端相连，所述闪存检测控制单元(4)的反馈端与闪存测试模式配置单元(5)的输出端，还与闪存型号配置单元(6)的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元(7)的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元(8)的输出端相连，所述闪存检测控制单元(4)的输出端通过测试基座输出单元(9)与PC的输入端相连。2.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第一测试座为(2)为薄型小尺寸封装测试座。3.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第二测试座(3)为焊球阵列封装测试座。4.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)均为独立的单元布置。5.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座输出单元(9)为USB接口。6.根据权利要求1至3中任意一项中所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第一测试座(2)和第二测试座(3)为独立的测试座布置。7.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座(1)的长度范围在10?15厘米，宽度范围在6?8厘米，高度范围在2?4厘米。8.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座(1)的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米。9.一种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤: S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座(2)和/或第二测试座(3)内； S2:闪存检测控制单元(4)检测到S1中放置的未被检测的闪存； S3:在经过S2后，闪存检测控制单元(4)中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)对未被检测的闪存卡进行检测； S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)各自的输出端反馈到闪存检测控制单元(4)中间； S5:通过S4中闪存检测控制单元(4)得到的反馈数据通过测试基座输出单元(9)传输至PC中; S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。10.根据权利要求1所述的基于小型闪存测试的方法，其特征在于:所述步骤S2同时检测到第一测试座(2)和第二测试座(3)内的闪存时，以预先设定的程序对其中之一的第一测试座(2)或第二测试座(3)进行先检测。
【专利摘要】本发明涉及一种基于小型闪存的测试装置及方法，测试基座上安装有第一测试座和第二测试座，第一测试座的输出端和第二测试座的输出端都与闪存检测控制单元的检测端相连，闪存检测控制单元的控制端分别与闪存测试模式配置单元输入端，闪存型号配置单元的输入端，闪存测试状态指示单元的输入端，闪存分类指示单元的输入端相连，闪存检测控制单元的反馈端与闪存测试模式配置单元的输出端，闪存型号配置单元的输出端，闪存测试状态指示单元的输出端，闪存分类指示单元的输出端相连，闪存检测控制单元的输出端与PC的输入端相连。本发明通过小型化、自动化和可靠性的结合使其具有高效性，从而提高检测的高效率。
【IPC分类】G11C29/56
【公开号】CN105489250
【申请号】CN201511018071
【发明人】黄程, 张朋, 张誉丹, 陈光第
【申请人】苏州恒成芯兴电子技术有限公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年12月30日
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种基于小型闪存的测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]Nand Flash从芯片供应商出货至各销售渠道，等级差异很大，另外以次充好的现象比比皆是，Nand Flash的检测设备一般只有大型企业才具备，而且设备体积庞大，操作复杂，测试效率低，不具有便携性。对于企业而言，需要采购大量的测试设备来测试购买的Nand Flash芯片的品质，测试设备占用空间小、操作简单、测试效率高，同时具备可靠性至关重要。针对Nand Flash芯片等级和坏块测试，一种体积小、操作简单、测试效率高的NandFlash检测设备，能为Nand Flash的检测提供较好的解决方案。
[0003]有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的基于小型闪存的测试装置，使其更具有产业上的利用价值。
【发明内容】
[0004]为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种基于小型闪存的测试装置及方法。
[0005]为实现上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0006]—种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座，所述测试基座上安装有第一测试座和第二测试座，所述测试基座上还设置有闪存检测控制单元，所述第一测试座的输出端和第二测试座的输出端都与闪存检测控制单元的检测端相连，所述闪存检测控制单元的控制端与闪存测试模式配置单元输入端相连，还与闪存型号配置单元的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元的输入端相连，所述闪存检测控制单元的反馈端与闪存测试模式配置单元的输出端，还与闪存型号配置单元的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元的输出端相连，所述闪存检测控制单元的输出端通过测试基座输出单元与PC的输入端相连。
[0007]再进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座为薄型小尺寸封装测试座。
[0008]更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第二测试座为焊球阵列封装测试座。
[0009]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元均为独立的单元布置。
[0010]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座输出单元为USB接口。
[0011]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座和第二测试座为独立的测试座布置。
[0012]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度范围在10?15厘米，宽度范围在6?8厘米，高度范围在2?4厘米。
[0013]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米。
[0014]一种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0015]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座和/或第二测试座内；
[0016]S2:闪存检测控制单元检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0017]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元对未被检测的闪存卡进行检测；
[0018]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元各自的输出端反馈到闪存检测控制单元中间；
[0019]S5:通过S4中闪存检测控制单元得到的反馈数据通过测试基座输出单元传输至PC中；
[0020]S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。
[0021]进一步地，一种基于小型闪存测试的方法，其中，所述步骤S2同时检测到第一测试座2和第二测试座3内的闪存时，以预先设定的程序对其中之一的第一测试座2或第二测试座3进彳丁先检测。
[0022]借由上述方案，本发明至少具有以下优点:
[0023]本发明将测试基座的尺寸变小，使之占用空间小，小区域内可以部署上百个测试装置，同时具有极高的便携性，方便使用者随时能携带，提高检测的工作效率，同时通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性;通过便携式的装置及可及时获取的数据，使该装置具备高效性，从而提高工作效率。
[0024]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
【附图说明】
[0025]为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0026]图1是本发明的结构示意图；
[0027]图2是本发明的连接关系图。
【具体实施方式】
[0028]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0029]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0030]实施例
[0031]如图1、图2所示，一种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座1，所述测试基座1上安装有第一测试座2和第二测试座3，所述测试基座1上还设置有闪存检测控制单元4，所述第一测试座2的输出端和第二测试座3的输出端都与闪存检测控制单元4的检测端相连，所述闪存检测控制单元4的控制端与闪存测试模式配置单元5输入端相连，还与闪存型号配置单元6的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输入端相连，所述闪存检测控制单元4的反馈端与闪存测试模式配置单元5的输出端，还与闪存型号配置单元6的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输出端相连，所述闪存检测控制单元4的输出端通过测试基座输出单元9与PC的输入端相连。通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性。
[0032]进一步的，所述闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8均为独立的单元布置，上述4个单元相互之间也不产生影响它们依据自行设定的程序对未被检测的闪存卡进行检测，并将其检测后得到的数据反馈到闪存检测控制单元4。
[0033]其中，所述测试基座输出单元9为USB接口。
[0034]而所述测试基座1的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米使其具备方便携带的能力，从而能将其随身携带，来针对需要检测的闪存器件。
[0035]—种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0036]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座2和/或第二测试座3内；
[0037]S2:闪存检测控制单元4检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0038]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元4中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元 6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8对未被检测的闪存卡进彳丁检测；
[0039]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8各自的输出端反馈到闪存检测控制单元4中间；
[0040]S5:通过S4中闪存检测控制单元4得到的反馈数据通过测试基座输出单元9传输至PC中;
[0041]S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。
[0042]其中，闪存检测控制单元4:用于闪存与状态指示的控制，并通过USB接口与PC进行数据交互；
[0043]闪存测试模式配置单元5:用于闪存测试算法的配置；
[0044]闪存型号配置单元6:用于配置不同厂商的闪存芯片；
[0045]闪存测试状态指示单元7:用于指示闪存测试过程的状态；
[0046]闪存分类指示单元8:用于闪存测试结果的指示，以此判断闪存芯片的等级。
[0047]本发明将测试基座的尺寸变小，使之具有极高的便携性，方便使用者随时能携带，提高检测的工作效率，同时通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性;通过便携式的装置及可及时获取的数据，使该装置具备高效性，从而提尚工作效率。
[0048]在包含以上内容的基础上，以下具体举例说明本发明的内容。
[0049]实施例一
[0050]在实施例一中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第一测试座为薄型小尺寸封装(TS0P)测试座进行检测，其检测的工作流程为:
[0051]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座(薄型小尺寸封装)；
[0052]S2:闪存检测控制单元4检测到S1中放置的未被检测的闪存；
[0053]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元4中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元
5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8对未被检测的闪存卡进彳丁检测；
[0054]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8各自的输出端反馈到闪存检测控制单元4中间；
[0055]S5:通过S4中闪存检测控制单元4得到的反馈数据通过测试基座输出单元9传输至PC中;
[0056]S6:通过PC显示被检测的闪存卡的所有需要的数据。
[0057]其中，检测的过程不发生任何的改变，只是只能单一对第一测试座2上的闪存进行检测，将采用薄型小尺寸封装的闪存全都检测，并分级。
[0058]实施例二
[0059]在实施例二中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第二测试座3为焊球阵列封装(BGA或者LGA)测试座进行检测，其检测的工作流程为:
[0060]与上述实施例一中的检测方法一致，只是只能单一对第二测试座3上的闪存进行检测，将采用焊球阵列封装(BGA或者LGA)的闪存全都检测，并分级。
[0061 ] 实施例三
[0062]在实施例三中，本发明提供了一种基于小型闪存测试的方法，针对第一测试座2和/或第二测试座3的同时检测，即薄型小尺寸封装(TS0P)/焊球阵列封装(BGA或者LGA)的检测，具体的工作流程与上述的实施例一和实施例二中的检测方法几乎相同，只是在其S1步骤后，检测得到的两者闪存同时出现后，闪存检测控制单元4会依据预先设定的程序作出先检测第一测试座2还是第二测试座3，当第一测试座2为预先设定的先检测的程序时，在第一测试座2检测完后，才会对第二测试座3内的闪存进行检测，最后将两种得到的数据汇总到PC中，并显示。
[0063]以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种基于小型闪存的测试装置，其特征在于:包括测试基座(1)，所述测试基座(1)上安装有第一测试座(2)和第二测试座(3)，所述测试基座(1)上还设置有闪存检测控制单元(4)，所述第一测试座(2)的输出端和第二测试座(3)的输出端都与闪存检测控制单元(4)的检测端相连，所述闪存检测控制单元(4)的控制端与闪存测试模式配置单元(5)输入端相连，还与闪存型号配置单元(6)的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元(7)的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元(8)的输入端相连，所述闪存检测控制单元(4)的反馈端与闪存测试模式配置单元(5)的输出端，还与闪存型号配置单元(6)的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元(7)的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元(8)的输出端相连，所述闪存检测控制单元(4)的输出端通过测试基座输出单元(9)与PC的输入端相连。2.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第一测试座为(2)为薄型小尺寸封装测试座。3.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第二测试座(3)为焊球阵列封装测试座。4.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)均为独立的单元布置。5.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座输出单元(9)为USB接口。6.根据权利要求1至3中任意一项中所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述第一测试座(2)和第二测试座(3)为独立的测试座布置。7.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座(1)的长度范围在10?15厘米，宽度范围在6?8厘米，高度范围在2?4厘米。8.根据权利要求1所述的基于小型闪存的测试装置，其特征在于:所述测试基座(1)的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米。9.一种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤: S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座(2)和/或第二测试座(3)内； S2:闪存检测控制单元(4)检测到S1中放置的未被检测的闪存； S3:在经过S2后，闪存检测控制单元(4)中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)对未被检测的闪存卡进行检测； S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元(5)、闪存型号配置单元(6)、闪存测试状态指示单元(7)及闪存分类指示单元(8)各自的输出端反馈到闪存检测控制单元(4)中间； S5:通过S4中闪存检测控制单元(4)得到的反馈数据通过测试基座输出单元(9)传输至PC中; S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。10.根据权利要求1所述的基于小型闪存测试的方法，其特征在于:所述步骤S2同时检测到第一测试座(2)和第二测试座(3)内的闪存时，以预先设定的程序对其中之一的第一测试座(2)或第二测试座(3)进行先检测。
【专利摘要】本发明涉及一种基于小型闪存的测试装置及方法，测试基座上安装有第一测试座和第二测试座，第一测试座的输出端和第二测试座的输出端都与闪存检测控制单元的检测端相连，闪存检测控制单元的控制端分别与闪存测试模式配置单元输入端，闪存型号配置单元的输入端，闪存测试状态指示单元的输入端，闪存分类指示单元的输入端相连，闪存检测控制单元的反馈端与闪存测试模式配置单元的输出端，闪存型号配置单元的输出端，闪存测试状态指示单元的输出端，闪存分类指示单元的输出端相连，闪存检测控制单元的输出端与PC的输入端相连。本发明通过小型化、自动化和可靠性的结合使其具有高效性，从而提高检测的高效率。
【IPC分类】G11C29/56
【公开号】CN105489250
【申请号】CN201511018071
【发明人】黄程, 张朋, 张誉丹, 陈光第
【申请人】苏州恒成芯兴电子技术有限公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年12月30日
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